Ультразвуковий дефектоскоп Olympus OmniScan X3

Новітнє рішення для ультразвукового контролю, що не руйнує, від компанії Olypmus — OmniScan X3.

Покращена технологія ФР

Інновації — головний чинник високої ефективності

• Удвічі швидше за дефектоскоп OmniScanTM MX2 (частота повторення імпульсів)
• Одне меню TOFD (дифракційно-часовий метод) для прискореної роботи
• Покращене та швидке калібрування ФР — Жодного стресу!
• Діапазон високих амплітуд 800% знижує потребу повторного сканування
• Вбудована підтримка перетворювачів Dual Linear ArrayTM і Dual Matrix ArrayTM прискорює процес настроювання

Підтримка наявних файлів і налаштувань:

• Повна підтримка наявних ПЕП і сканерів
• Повне підтримання файлів даних MX2/SX для порівняння показань і відстеження змін у часі
• Повне підтримання параметрів MX/MX2/SX гарантують відповідність процедур вимогам контролю

Інноваційний метод TFM

TFM-зображення з чудовою деталізацією

Комбінація характеристик OmniScanTM X3, як-от: огинальна TFM (метод загальної фокусування) у режимі реального часу, що дає змогу мати здатність сітки до 1 024 × 1 024 і яскравий кольоровий дисплей — забезпечують неперевершену якість TFM-зображення. Завдяки високій роздільній здатності забезпечується чітка візуалізація дефектів.

Огляд зони сканування

Карта акустичного впливу (AIM) надає миттєву візуальну модель чутливості, з урахуванням обраного режиму, налаштувань і відбивача.
Цей інструмент дає змогу візуалізувати вплив групи хвиль (у режимі TFM), визначити зону найменшої чутливості та скоригувати, за потреби, схему сканування.