Корзина
Нет отзывов, добавить
Контакты
ТОВ НВФ Діагностичні прилади
Наличие документов
Знак Наличие документов означает, что компания загрузила свидетельство о государственной регистрации для подтверждения своего юридического статуса компании или физического лица-предпринимателя.
+380442391246
Александр Павлий
УкраинаКиевул. Патриотов 103
Карта

Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3

Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3, фото 1
впередназад
Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3, фото 2Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3, фото 3Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3, фото 4Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3, фото 5Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3, фото 6Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3, фото 7Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3, фото 8Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3, фото 9Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3, фото 10
  • В наличии
  • Код: OmniX3

Цену уточняйте

Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3
Цену уточняйте
В наличииУльтразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3
+380442391246
+380442391246
  • График работы
  • Адрес и контакты

Новейшее решение для ультразвукового неразрушающего контроля от компании Olypmus - OmniScan X3.

Улучшенная технология ФР

Инновации – главный фактор высокой эффективности

  • В 2 раза быстрее дефектоскопа OmniScan™ MX2 (частота повторения импульсов)
  • Одно меню TOFD (дифракционно-временной метод) для ускоренной работы
  • Улучшенная и быстрая калибровка ФР — Никакого стресса!
  • Диапазон высоких амплитуд 800% снижает необходимость повторного сканирования
  • Встроенная поддержка преобразователей Dual Linear Array™ и Dual Matrix Array™ ускоряет процесс настройки

Поддержка существующих файлов и настроек:

  • Полная поддержка существующих ПЭП и сканеров
  • Полная поддержка файлов данных MX2/SX для сравнения показаний и отслеживания изменений во времени
  • Полная поддержка настроек MX/MX2/SX гарантируют соответствие процедур требованиям контроля

Инновационный метод TFM

TFM-изображения с превосходной детализацией

Комбинация таких характеристик OmniScan™ X3, как: огибающая TFM (метод общей фокусировки) в режиме реального времени, разрешающая способность сетки до 1 024 × 1 024 и яркий цветной дисплей – обеспечивают непревзойденное качество TFM-изображений. Благодаря высокому разрешению обеспечивается четкая визуализация дефектов.

Обзор области сканирования

Карта акустического воздействия (AIM) предоставляет мгновенную визуальную модель чувствительности, с учетом выбранного режима, настроек и отражателя.
Этот инструмент позволяет визуализировать воздействие группы волн (в режиме TFM), определить зону наименьшей чувствительности и скорректировать, при необходимости, схему сканирования.

Спецификация
Информация для заказа
  • Цена: Цену уточняйте
Отзывы о товаре